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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱：
儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/電壓擊穿
產(chǎn)品型號：華測系列
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
所在地：北京市
更新日期：2025-09-09
產(chǎn)品簡介：
儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/電壓擊穿，可測電壓擊穿（介電場強(qiáng)），高低頻介電頻譜、溫譜，高溫絕緣電阻，熱釋電測試，TSDC熱刺激極化電流，充放電儲(chǔ)能密度測試，電聲脈沖法空間電荷測量，靜電電壓等
產(chǎn)品特性Product characteristics
| 品牌 | 華測 |
|---|
儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)
隨著能源需求的不斷增加以及對環(huán)境友好能源的需求，新型能源儲(chǔ)能材料的研究成為了當(dāng)前的熱門領(lǐng)域之一。在開發(fā)新一代的儲(chǔ)能新材料時(shí)，對其性能的測試與分析是至關(guān)重要的一環(huán)，儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)可以通過各功能測試模塊，系統(tǒng)的幫組科研人員從能量密度、功率密度、循環(huán)壽命、安全性四個(gè)方面對新材料性能進(jìn)行分析檢測，評估材料的性能指標(biāo)，判斷是否符合應(yīng)用要求。
系統(tǒng)配置
測試模塊
01.電壓擊穿（介電場強(qiáng)）
由能量密度可知，擊穿場強(qiáng)相對于介電常數(shù)對于材料能量密度的影響更為突出，獲得高能量密度對復(fù)合材料擊穿場強(qiáng)提出了更高的要求。
通過上位機(jī)系統(tǒng)控制高壓擊穿測試模塊，可以安全、便捷、準(zhǔn)確的對測試樣品進(jìn)行工頻下的交流、高壓直流擊穿試驗(yàn)，測試出擊穿場強(qiáng)。甚至可以通過測試軟件設(shè)置直流輸出時(shí)間，以完成樣品的極化過程。
02.高低頻介電頻譜、溫譜
用于分析寬頻、高低溫環(huán)境下儲(chǔ)能新材料的阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，同時(shí)還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時(shí)間、偏壓變化的曲線。
03.高溫絕緣電阻
高精度的電壓輸出與電流測量，即使在高低溫環(huán)境下可能很好的屏蔽背景電流，保障測試品質(zhì)，適用與儲(chǔ)能新材料在不同環(huán)境溫度下絕緣性能的檢測。
04.熱釋電測試
不論是薄膜還是塊體形式的儲(chǔ)能材料，都可對其進(jìn)行熱釋電性能測試。采用電流法進(jìn)行測量，材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對溫度和時(shí)間的曲線。
05.TSDC熱刺激極化電流
熱刺激電流（TSC）是研究熱釋電材料中陷阱結(jié)構(gòu)和陷阱結(jié)構(gòu)所控制的空間電荷存貯及運(yùn)輸特性的工具，同時(shí)也是研究熱點(diǎn)材料結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變和分子運(yùn)動(dòng)的重要手段。諸如：分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等，通過TSDC技術(shù)也可以直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)介電特性、
06.充放電儲(chǔ)能密度測試
用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能，同目前常見的方法是通過電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)能量密度，測試時(shí)，樣品的電荷釋放至高壓源上，而非釋放至負(fù)載上，也就是說，通過電滯回線測得的能量密度會(huì)大與樣品實(shí)際釋放的能量密度，不能正確評估儲(chǔ)能材料的正常放電性能。華測充放電測試具有專門設(shè)計(jì)的電容放電電路來測量，首先將測試材料充電到給定電壓，之后通過閉合高速MOS高壓開關(guān)，將存儲(chǔ)在儲(chǔ)能材料中的能量釋放到電阻器負(fù)載中，更符合電介質(zhì)充放電原理。
07.電聲脈沖法空間電荷測量
空間電荷是指在材料特定區(qū)域內(nèi)電荷分布不均勻的現(xiàn)象。該現(xiàn)象是由于載流子的擴(kuò)散和漂移運(yùn)動(dòng)所導(dǎo)致的，在材料的局部區(qū)域產(chǎn)生了電荷累積，從而使材料改變了原本的電中性狀態(tài)。空間電荷的存在對材料的電學(xué)性能有著重要的影響，可能導(dǎo)致電場畸變、絕緣性能下降等問題。
電聲脈沖法（PEA）空間電荷測試可以便捷準(zhǔn)確地測量固體儲(chǔ)能材料內(nèi)部空間電荷分布,電聲脈沖法可以測量較厚的介質(zhì)，可以在帶電狀態(tài)下直接測量絕緣測試樣品中的空間電荷分布，最小可測空間電荷密度為4μC·cm-3,最小可測試樣厚度為0.2mm。
08.靜電電壓
靜電是一種處于靜止?fàn)顟B(tài)的電荷，雖然其總電荷量不大，但其瞬間釋放所產(chǎn)生的高電壓與大電流非常容易對周邊電路、設(shè)備乃至人員造成損害。對儲(chǔ)能材料的靜電性能（包括面電荷密度與電阻）進(jìn)行測試，可以對后期防靜電工程設(shè)計(jì)和改善儲(chǔ)能系統(tǒng)的抗靜電性能設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支持，對周圍電路的靜電敏感電子元器件選型提供參考依據(jù)。
配置模塊
功能 | 測試儀表 | 測試環(huán)境配件/夾具 | ||
電壓擊穿（介電場強(qiáng)） | 高壓電源 | 變溫油浴槽 溫度范圍：RT~250℃（視絕緣介質(zhì)性能） | ||
高低頻介電溫譜 | 阻抗分析儀 | 高低溫冷熱臺(tái) 溫度范圍：-185℃~600℃ | 高溫近紅外爐 溫度范圍：RT~1450℃ | 高低溫環(huán)境箱 溫度范圍：-185℃~450℃ |
高溫絕緣電阻測試 | 高阻計(jì)/源表 | 高低溫冷熱臺(tái) 溫度范圍：-185℃~600℃ | 高溫近紅外爐 溫度范圍：RT~1450℃ | 高低溫環(huán)境箱 溫度范圍：-185℃~450℃ |
熱釋電測試 | 高阻計(jì)/靜電計(jì) | 高低溫冷熱臺(tái) 溫度范圍：-185℃~600℃ | 高低溫環(huán)境箱 溫度范圍：-185℃~450℃ | |
TSDC熱刺激電流測試 | 高阻計(jì)/靜電計(jì) | 高低溫冷熱臺(tái) 溫度范圍：-185℃~600℃ | 高低溫環(huán)境箱 溫度范圍：-185℃~450℃ | |
充放電儲(chǔ)能密度測試 | 充放電測試模塊 | 變溫測試盒 溫度范圍：RT~250℃（視絕緣介質(zhì)性能） | ||
靜電電壓 | 高阻計(jì)/靜電計(jì) | 靜電變溫測試罐 溫度范圍： | ||
空間電荷測試 | 示波器+高壓電源+功率放大器 | 電聲脈沖法空間電荷測試夾具 | ||
測試裝置
拓展資料
能量密度常用計(jì)算公式：
式中：Uc為電容器的充電能量密度；Ud為電容器的實(shí)際放電能量密度；E為外加電場；D為電位移；Dmax為最大電位移；Dr為剩余電位移；ε0為電介質(zhì)的真空介電常數(shù)；εr為電介質(zhì)的相對介電常數(shù)；Eb為擊穿場強(qiáng)；η為充放電效率。
儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/電壓擊穿
儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)/電壓擊穿
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